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汎用測定装置

X 線光電子分光装置

[XPS 装置外観] [試料ホルダ部分]

X 線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy: XPS) です。

原子間力顕微鏡

[AFM 装置]

光学顕微鏡

[光学顕微鏡]

近紫外分光光度計

[分光計]

Hall 測定装置

薄膜試料の電気特性を Hall 測定によって評価する装置です。 試料には van der Pauw 法のクローバー型形状のものを用いています。

クライオスタットと付属の温度コントローラによって、 室温から液体窒素温度までの領域において、安定した温度条件での測定が 可能になっています。


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(98.07.26 更新)

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