なかのにっき

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2006年12月12日(火) [n年日記]

#1 [labo] XPS

帰り際に Al 膜・pSi 試料をイントロへ。

#2 帰り

原付。寒いのにも少しは慣れた。

#3 行き

原付。相変わらず寒い。小雨で合羽を着たらズボンを引っかけて破いてしまった。

#4 [dept] 物生実験

今日を入れてあと二回。 18:40 頃終わり。

#5 [receipt] 紀伊国屋 BC 2,174 円

#6 [paper] 今日拾った論文 (PRL 97(3), APL 89(3), JJAP p2 (29-32))

General Theory of Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy:

いわゆる tapping mode AFM の振幅・位相の距離依存性を積分公式にまとめた話。 L-J の場合についてグラフも。でもこれちゃんと新規性あるんだろうか。

Angular radiation pattern of electric dipoles embedded in a thin film in the vicinity of a dielectric half space:

色素を分散させた PMMA 膜をガラス上に付け、膜厚を変えながら 放射強度の角度依存性を測定した話。 双極放射に干渉を入れた式で fitting、比較的良い一致。

Bidirectional thermal expansion measurement for evaluating Poisson's ratio of thin films:

curvature から stress を、XRR で膜厚変化を測り、 膜の Poisson 比を決定しましょう、という話。 対象は low-K の SiOC と PAE (polyarylene ehter?)。

Effects of oxide layer thickness on Si-nanocrystal photoluminescence intensity in Si+-implanted SiO2/Si systems:

タイトル通りの試料。熱酸化膜の厚さを 110〜330nm で変え、 7E16 cm^-2 の 50keV Si をインプラ、N2 中 1100℃ で 1h、 5%H2-95%N2 中 500℃ で 30min のアニール。 405nm/488nm で励起、PL の膜厚依存性。 強度をモデル計算と比較まあやっぱ干渉がキモみたいだけど。

Electron Emission Tip at Extremely Low Bias Voltage:

FEM/FIM の W tip をうまいこと酸化させると数 V で (!) 開口角 2°以下の (!) 電子ビームが extract される、という express letter。

#7 [labo] 論文輪講

柴田くん。教科書から。
大木さんが Manufacturing method for n-type porous silicon based on Hall effect without illumination

#8 [vsj] DVD

どうも AM からもらったメディアは一部読めなくなっていたようで、 migrate に取っておいたバックアップから。
mkisofs -r -v -J -o fuga.iso fuga
でイメージをつくり、OSX に ftp で転送して焼いてるところ。さて。

うまく焼けたようだ。封緘。

#9 [dept] HRC パンフ写真

坪村先生から「なんか見栄えのするカッコいい装置ないですか〜」 という query があり、こないだ入った (まだ稼動させてない) UHVSP (intro 付き) を押してみる。 なぜか被写体にもなったり。むー。

#10 某議事録

赤を入れていただいたので再編集。

#11 [labo] Al スパッタ→MgO 準備

二回目。菅原くんと。
その後ふっ酸エッチングを経て Al スパッタ・MgO スパッタ両装置へ基板導入して 今日はおしまい。ターボが 3 台回って五月蝿えのなんの。

#12 [issp] web 更新

invited/manufacturer が少々変動。 submission 予定の方はよろしくですー。

#13 ふと

明後日の準備を全くしていないことに気付いた…

#14 ゴミその後

飯村くんが掃除のおばさんから「別に降ろさなくてもいいのよ、 というか 1F と 5F では担当者が違うから…」と言われたらしい。 うーん、やはり指揮系統のはっきりしている方を信じるべきだったか。
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中野武雄 (NAKANO, Takeo) <nakano@st.seikei.ac.jp> Since 1999-10-07
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