なかのにっき

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2005年09月29日(木) [n年日記]

#1 疲労

起床時グッタリ疲れていた。やはりまだ無理はできん。

#2 行き

原付。すっかり秋っぽい。

#3 [dept] 第三実験

1 グループ目 1 回目。四端子の抵抗測定器の調子がちょっと悪い。 電流ピンの先端が黒ずんでいるが、そのせいか? しばらく使っていたら、もとにもどったけど。

まあ順調に 17:00 頃終了。

#4 接骨院

往復。帰りに武蔵関で夕食。

#5 [paper] 今日拾った論文 (PRL 95(12), APL 87(12))

Influence of Surface Roughness on Adhesion between Elastic Bodies:

柔らかい球が接触する対象が rough なとき、その power spectrum が 付着力−付着エネルギーにどう効くかを考察した話。 実効接触面積に絡めたモデルの実験的検証。 基板は基板温度を替えて粗さを変えた Al 膜からエポキシ樹脂で型を取ったもの、 球はポリジメチルシロキセン (シリコンエラストマー)。

Control and analysis of ion species in inductively coupled nitration plasma using a grid system:

N2 2mTorr+Ar 8mTorr の ICP plasma の中ほどと底に grid を設け、 底では plasma potential 制御用に 35V をかけ、center grid の電圧を 変えて Te と N+/N2+ 比を調べた話。grid によって plasma ポテンシャルの違う領域が 2 つでき、 それぞれでの生成 (Te が関与) と拡散 (ポテンシャルが関与) について議論。

Thermal annealing effect on the band gap and dielectric functions of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix:

SiO2 中への Si インプラとアニールで作った matrix の分光測定から Maxwell-Garnet Effective Medium Approximation ( ref14 ) というのでバンドギャップを評価した話。

Chemical fluctuation-induced nanodomains in Cu(In,Ga)Se2 films:

CIGS (と CIS) の TEM+EDS 観察。あと HAADF という、広角の暗視野像らしい測定も。 Cu/(In+Ga), Ga/(In+Ga) が 10nm 以下程度の domain があるということ。 結晶としては coherent。Cu の rich/poor については p/n 型の fluctuation が、 Ga については CBM のそれが、という議論をしている。ふむ。

Strengthening TiN diffusion barriers for Cu metallization by lightly doping Al:

Al を 0.09 くらい混ぜると拡散バリア性能が良くなったっつー話。 TEM, RBS, grazing incidence XRD。 Cu 付けたあと 550℃ 10min のアニールで、 TiN は欠陥の多い grain 状になってしまい、 バリア性能が悪くなるが、Al 混ぜるとそれが抑制されるとのこと。 shadowing でできる void がうんちゃら〜とも言ってるが。
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中野武雄 (NAKANO, Takeo) <nakano@st.seikei.ac.jp> Since 1999-10-07
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